блог

Введение Производство полупроводниковых пластин использует процессы шлифования, которые генерируют значительное количество абразивной суспензии, содержащей взвешенные частицы кремния и абразивные частицы. Эффективное управление этими отходами требует непрерывного мониторинга взвешенных твердых частиц (SS) для оптимизации фильтрационных систем, минимизации образования отходов и поддержания качества процесса. Процессы рециркуляции и фильтрации шлифовочной суспензии обычно работают при концентрациях взвешенных твердых частиц…

Мутность — оптическое измерение прозрачности воды — является одним из старейших параметров качества воды и по-прежнему остается одним из самых полезных для систем водоснабжения в электронике. Она сигнализирует о загрязнении взвешенными частицами, прорыве мембраны и сбоях в обработке. С уменьшением геометрии устройств допустимые бюджеты частиц, которые могут выдерживать влажные процессы, становятся более жесткими, и мониторинг…

Введение Измерение химического потребления кислорода (COD) — это способ, которым полупроводниковые фабрики доказывают, что их сточные воды подходят для сброса, и продолжают это доказывать, постоянно, по мере ужесточения разрешений. Непрерывный мониторинг COD позволяет предприятиям поддерживать соответствие требованиям, оптимизируя при этом эффективность обработки и минимизируя эксплуатационные расходы. Разрешения на сброс — это разрешения NPDES в США…

Введение Загрязнение маслами в системах чистой воды представляет реальные риски для качества производства электроники и надежности оборудования. Даже следовые загрязнения углеводородами могут ухудшить производительность полупроводниковых устройств, сократить срок службы компонентов оборудования и вызвать дорогостоящие перерывы в производстве. Поскольку геометрия устройств уменьшается, а требования к надежности ужесточаются, мониторинг масел в воде становится все более важным. Нет…